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高低温试验箱评估产品因为跌落

发布者:无锡玛瑞特科技有限公司 发布时间:2021/1/27 2:04:35 点击次数:322 关闭

  可靠度是产品以标准技术条件下,在特定时间内展现特定功能的能力,可靠度是量测失效的可能性,失效的比率,以及产品的可修护性。根据产品的技术规范以及客户的要求,我们可以执行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同规范的可靠度的测试。

  可靠性可以定义为产品在特定的使用环境条件下,在既定的时间内,执行特定功能,成功达成工作目标的机率。对于可靠性*直接影响的环境因子有,高低温试验箱温度变化、温度、湿度、机械应力、电压…等等。可靠性测试主要针对组件在各种环境下进行实验,以加速各组件老化及发生失效现象,进而达到改善设计、材料或是制程参数的目的。

  · 高温水蒸汽压力试验(Pressure Cook Test)/高加速温湿度试验(High Acclerate Stress Test) : 与温湿度贮存试验原理相同,不同地方是在加湿过程中,压力大于大气压力,高低温试验箱更加速了腐蚀速度,引发出封装不佳的产品,内部因此而腐蚀。

  · 温度循环试验(Temperature Cycling Test) : 使零件冷热交替几个循环,利用膨胀系数的差异,造成对组件的影响。可用来剔除因晶粒﹑打线及封装等受温度变化而失效之零件。

  · 温度冲击试验(Thermal shock Test) : 基本上跟温度循环试验原理一样,差异是加快温度变化速度。测定电子零件曝露于高低温情况下之抗力,可以侦测包装密封﹑晶粒结合﹑打线结合﹑基体裂缝等缺陷。

  · 高温寿命试验(High Temperature Operating Life Test) : 利用高温及电压加速的方法,在高温下加速老化,再外加讯号进去,仿真组件执行其功能的状态。藉短时间的实验,来评估IC产品的长时间操作寿命。

  · 震动测试(Vibration Test):仿真地面运输或产品操作使用时,所产生的震动环境。将构装组件结构内原有的缺陷,经由震动行为加速缺陷的劣化状况,进而导致组件机制失效。

  · 机械冲击测试(Mechanical Shock Test):将试件在一定的高度上,沿斜滑轨下滑与底部的障碍物相撞,而产生冲击。高低温试验箱将构装组件结构内原有的缺陷,经由冲击行为加速缺陷的劣化状况,进而导致组件机制失效。

  · 落下测试(Drop Test):把装有试件的工作台上升到一定高度,突然释放而跌落,与底部的钢板或水泥板相撞而发生冲击。评估产品因为跌落,于安全条件需求下*小的强韧性。
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